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Serial Quad I/O (SQI) Flash Memory
A Microchip Technology Company
CE#
T CPH
SST26VF016 / SST26VF032
Data Sheet
CLK
SIO(3:0)
MODE 3
MODE 0
C1 C0
MODE 3
MODE 0
C3 C2
MODE 3
MODE 0
1359 F14.0
Note: C[1:0] = 55H; C[3:2] = AAH
Figure 28: Reset Timing Diagram
VIHT
VHT
VHT
INPUT
VLT
REFERENCE POINTS
VLT
OUTPUT
VILT
1359 F28.0
AC test inputs are driven at V IHT (0.9V DD ) for a logic ‘1’ and V ILT (0.1V DD ) for a logic ‘0’.
Measurement reference points for inputs and outputs are V HT (0.6V DD ) and V LT
(0.4V DD ). Input rise and fall times (10% ? 90%) are <3 ns.
Note: V HT - V HIGH Test
V LT - V LOW Test
V IHT - V INPUT HIGH
Test
Figure 29: AC Input/Output Reference Waveforms
?2011 Silicon Storage Technology, Inc.
35
DS-25017A
04/11
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